Dimension-Labs 掃描狹縫式光斑分析儀系列采用國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術,覆蓋 190-2700nm 寬光譜,可測 2.5μm-10mm 光束直徑,0.1μm 超高分辨率突破傳統檢測極限。其創新設計實現三大優勢: 雙模式自適應檢測 通過軟件...
維度光電-光斑分析儀的使用 科研場景 將 BeamHere 安裝在飛秒激光實驗平臺,使用觸發模式同步采集單脈沖光斑。 通過軟件 "時間序列分析" 功能,觀察脈沖序列中光斑形態變化。 調用 "光束質量評估" 模塊,計算啁啾脈沖的 M2 因子演變曲線。 在 "用戶...
維度光電深刻認識到高功率光束檢測在激光應用中的性和難度。大多數光斑分析儀使用的面陣傳感器在**功率下就會飽和,而常規激光器功率普遍較高,這使得大功率光束檢測成為激光應用的難點。為解決這一問題,維度光電推出 BeamHere 光斑分析儀系列和大功率光束取樣系統。...
維度光電 BeamHere 系列為激光光束質量檢測提供高性價比解決方案: 掃描狹縫式:國內刀口 / 狹縫雙模式切換,覆蓋 190-2700nm 光譜,可測 2.5μm-10mm 光束,0.1μm 分辨率實現亞微米級光斑分析。創新狹縫衰減機制支持 10W 級高功...
維度光電光束質量測量解決方案應用場景 Dimension-Labs 方案覆蓋工業、醫療、科研等多領域: 工業制造:高功率激光切割 / 焊接實時監測,優化熱影響區控制;亞微米光斑檢測保障半導體晶圓劃片良率。 醫療健康:飛秒激光手術光斑能量分析,提升角膜切削精度;...
維度光電光束質量測量解決方案基于兩大技術平臺: 掃描狹縫式系統:采用正交狹縫轉動輪結構,通過 ±90° 旋轉實現 XY 軸同步掃描,結合刀口 / 狹縫雙模式切換,突破亞微米級光斑檢測極限。光學系統集成高靈敏度光電探測器,配合高斯擬合算法,實現 0.1μm 分辨...
Dimension-Labs 正式發布符合 ISO11146 標準的 Beamhere 光斑分析解決方案。該系統通過硬件與軟件協同工作,可測量光斑能量分布、發散角及 M2 因子等參數。產品內置光束整形評估模塊,可對聚焦光斑形態、準直系統性能進行量化檢驗。用戶可...
如何使用光斑分析儀 Step 1 準備設備 將 BeamHere 光斑分析儀固定在光具座上,調整高度使激光束中心與 sensor 靶面重合。用 Type-C 線連接分析儀與電腦,打開 BeamHere 軟件等待設備識別。 Step 2 采集數據 開啟激光器預熱...
維度光電的BeamHere光斑分析儀系列品類齊全。從精細的微小光斑分析到大面積的宏觀光斑探測,從**能量到高能量密度的光斑測量,無一不在其覆蓋范圍之內。無論是科研實驗中對微小光斑現象的,需要超高分辨率的光斑分析;還是工業生產里對大功率激光加工光束質量的把控,涉...
Dimension-Labs 正式發布符合 ISO11146 標準的 Beamhere 光斑分析解決方案。該系統通過硬件與軟件協同工作,可測量光斑能量分布、發散角及 M2 因子等參數。產品內置光束整形評估模塊,可對聚焦光斑形態、準直系統性能進行量化檢驗。用戶可...
Dimension-Labs 維度光電相機式與狹縫式光斑分析儀的選擇需基于應用場景的光斑尺寸、功率等級、脈沖特性及形態復雜度。相機式基于面陣傳感器成像,可測大10mm 光斑(受限于 sensor 尺寸),小光斑為 55μm(10 倍 5.5μm 像元),結合 ...
Dimension-Labs 推出 Beamhere 系列光斑分析儀,通過配套通用軟件構建完整光束質量評估體系。該系統集成光斑能量分布測繪、發散角測量及 M2 因子計算三大功能,可有效分析光束整形、聚焦及準直效果。所有參數均符合 ISO11146 標準,包括光...
維度光電光束質量測量解決方案基于兩大技術平臺: 掃描狹縫式系統:采用正交狹縫轉動輪結構,通過 ±90° 旋轉實現 XY 軸同步掃描,結合刀口 / 狹縫雙模式切換,突破亞微米級光斑檢測極限。光學系統集成高靈敏度光電探測器,配合高斯擬合算法,實現 0.1μm 分辨...
使用維度光電BeamHere 光斑分析儀開展光斑與光束質量測量的流程 系統搭建:將 BeamHere 相機式光斑分析儀的傳感器置于激光束路徑,通過支架調節位置確保光斑完整覆蓋 sensor。使用 USB 3.0 數據線連接設備與電腦,安裝 BeamHere V...
BeamHere 分析軟件作為組件,支持多設備協同工作:掃描數據自動校準、光斑模式智能識別、M2 因子三維重建。通過機器學習算法,可自動補償環境光干擾與溫度漂移。通過可視化界面,用戶可實時查看光斑能量分布云圖、發散角變化曲線及束腰位置動態圖,支持多參數聯動分析...
維度光電針對當前市場上的諸多行業痛點,隆重推出了光斑分析儀系列產品。在國內激光光束質量分析領域,長期以來存在著一個的問題,那就是缺乏能夠提供多樣化型號及定制化解決方案的光斑分析儀品牌。許多企業長期受限于國外設備的長周期交付和難以定制的缺陷,這不僅影響了生產效率...
維度光電-光斑分析儀的使用 科研場景 將 BeamHere 安裝在飛秒激光實驗平臺,使用觸發模式同步采集單脈沖光斑。 通過軟件 "時間序列分析" 功能,觀察脈沖序列中光斑形態變化。 調用 "光束質量評估" 模塊,計算啁啾脈沖的 M2 因子演變曲線。 在 "用戶...
維度光電將在以下領域持續創新: 多模態融合:波前傳感與光斑分析一體化設備,同步獲取振幅 / 相位信息 微型化突破:推出小型光束分析儀(尺寸 < 150mm3),支持現場快速檢測 智能化升級:引入數字孿生技術,構建光束質量預測模型 標準制定:主導制定《高功率激光...
Dimension-Labs 掃描狹縫式光斑分析儀系列以國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術為,覆蓋 190-2700nm 全光譜,可測 2.5μm 至 10mm 光束直徑。其 0.1μm 超高分辨率突破傳統設備極限,捕捉亞微米級光斑細節。 技術優勢: 雙模式智...
維度光電聚焦激光領域應用,推出覆蓋千瓦高功率、微米小光斑及脈沖激光的光束質量測量解決方案。全系產品包含掃描狹縫式與相機式兩大技術平臺:狹縫式通過正交狹縫轉動輪實現 0.1μm 超高分辨率,可直接測量近 10W 激光,適用于半導體晶圓切割等亞微米級場景;相機式采...
維度光電-BeamHere光斑分析儀通過測量光束質量參數,為激光技術在多領域的高效應用提供支撐。在工業加工領域,其亞微米級光斑校準能力有效優化切割、焊接及打標工藝,確保光束輪廓的一致性,從而保障加工質量。在醫療領域,該設備用于眼科準分子激光手術設備的校準,實時...
Dimension-Labs 針對高功率激光檢測難題推出 BeamHere 大功率光束取樣系統,突破傳統面陣傳感器在 10μW/cm2 飽和閾值的限制,通過創新狹縫物理衰減機制實現 10W 級激光直接測量,配合可疊加的單次(DL-LBA-1)與雙次(DL-LB...
維度光電聚焦激光領域應用,推出覆蓋千瓦高功率、微米小光斑及脈沖激光的光束質量測量解決方案。全系產品包含掃描狹縫式與相機式兩大技術平臺:狹縫式通過正交狹縫轉動輪實現 0.1μm 超高分辨率,可直接測量近 10W 激光,適用于半導體晶圓切割等亞微米級場景;相機式采...
使用維度光電BeamHere 光斑分析儀開展光斑與光束質量測量的流程 系統搭建:將 BeamHere 相機式光斑分析儀的傳感器置于激光束路徑,通過支架調節位置確保光斑完整覆蓋 sensor。使用 USB 3.0 數據線連接設備與電腦,安裝 BeamHere V...
使用 BeamHere 光斑分析儀測量激光光斑和質量,包括以下步驟: 準備:準備 BeamHere 光斑分析儀、激光器和數據處理軟件。確保光斑傳感器放置并連接到計算機。 數據采集:啟動激光器,穩定照射傳感器,實時傳輸圖像信息到計算機。 數據分析:BeamHer...
維度光電BeamHere 光斑分析儀選型指南: 1. 光束特性分析 光斑尺寸:亞微米用狹縫式(2.5μm 精度),毫米級用相機式(10mm 量程)。 功率等級:高功率用狹縫式(近 10W),微瓦級用相機式(適配衰減片)。 光束形態:高斯用狹縫式(經濟),非高斯...
維度光電Dimension-Labs BeamHere 系列作為全光譜光束分析解決方案,致力于為激光技術應用提供 "一站式" 質量管控工具。產品矩陣覆蓋 190-2700nm 超寬光譜,融合掃描狹縫式(2.5μm-10mm 光斑)與相機式(400-1700nm...
Dimension-Labs 掃描狹縫式光斑分析儀系列以國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術為,覆蓋 190-2700nm 全光譜,可測 2.5μm 至 10mm 光束直徑。其 0.1μm 超高分辨率突破傳統設備極限,捕捉亞微米級光斑細節。 技術優勢: 雙模式智...
在激光應用領域,高功率光束檢測一直是個難題。傳統面陣傳感器十分靈敏,在每平方厘米約 10μW 的功率水平下就會飽和,常規激光器功率遠超此強度,不衰減光束不僅無法測量光斑信息,還可能損壞設備。維度光電為此推出 BeamHere 光斑分析儀系列及適配的高功率光束取...
Dimension-Labs 推出 Beamhere 光束質量分析系統,針對激光加工、醫療設備等領域的光束質量評估需求。該系列產品通過多維度檢測模塊,可對光束能量分布進行實時可視化分析,同步獲取發散角、M2 因子等參數。支持光束整形效果驗證、聚焦光斑優化及準直...