Dimension-Labs 推出 Beamhere 系列光斑分析儀,通過配套通用軟件構建完整光束質量評估體系。該系統集成光斑能量分布測繪、發散角測量及 M2 因子計算三大功能,可有效分析光束整形、聚焦及準直效果。所有參數均符合 ISO11146 標準,包括光...
如何使用光斑分析儀 Step 1 準備設備 將 BeamHere 光斑分析儀固定在光具座上,調整高度使激光束中心與 sensor 靶面重合。用 Type-C 線連接分析儀與電腦,打開 BeamHere 軟件等待設備識別。 Step 2 采集數據 開啟激光器預熱...
如何使用光斑分析儀 Step 1 準備設備 將 BeamHere 光斑分析儀固定在光具座上,調整高度使激光束中心與 sensor 靶面重合。用 Type-C 線連接分析儀與電腦,打開 BeamHere 軟件等待設備識別。 Step 2 采集數據 開啟激光器預熱...
在激光應用領域,高功率光束檢測一直是個難題。傳統面陣傳感器十分靈敏,在每平方厘米約 10μW 的功率水平下就會飽和,常規激光器功率遠超此強度,不衰減光束不僅無法測量光斑信息,還可能損壞設備。維度光電為此推出 BeamHere 光斑分析儀系列及適配的高功率光束取...
在激光應用領域,高功率光束檢測一直是個難題。傳統面陣傳感器十分靈敏,在每平方厘米約 10μW 的功率水平下就會飽和,常規激光器功率遠超此強度,不衰減光束不僅無法測量光斑信息,還可能損壞設備。維度光電為此推出 BeamHere 光斑分析儀系列及適配的高功率光束取...
維度光電針對當前市場上的諸多行業痛點,隆重推出了光斑分析儀系列產品。在國內激光光束質量分析領域,長期以來存在著一個的問題,那就是缺乏能夠提供多樣化型號及定制化解決方案的光斑分析儀品牌。許多企業長期受限于國外設備的長周期交付和難以定制的缺陷,這不僅影響了生產效率...
維度光電聚焦激光領域應用,推出覆蓋千瓦高功率、微米小光斑及脈沖激光的光束質量測量解決方案。全系產品包含掃描狹縫式與相機式兩大技術平臺:狹縫式通過正交狹縫轉動輪實現 0.1μm 超高分辨率,可直接測量近 10W 激光,適用于半導體晶圓切割等亞微米級場景;相機式采...
光斑分析儀通過光學傳感器將光斑能量分布轉化為電信號,結合算法分析實現光束質量評估。其傳感器采用量子阱材料設計,響應速度達 0.1μs,可捕捉皮秒級激光脈沖。Dimension-Labs 產品采用雙技術路線:掃描狹縫式通過 0.1μm 超窄狹縫逐行掃描,實現 2...
維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列提供高性價比光束質量檢測解決方案,涵蓋掃描狹縫式、相機式及 M2 測試模塊三大產品線: 掃描狹縫式光斑分析儀采用國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術,支持 190-2700nm 寬光譜范圍,可測量 2.5μm-10...
維度光電提供光束質量測量解決方案,適用于工業、醫療、科研等多個領域。在工業制造中,用于激光切割和焊接的狹縫式分析儀能實時監測激光束能量分布,優化加工精度;半導體加工中,超高分辨率檢測技術支持晶圓劃片工藝優化。醫療健康方面,相機式分析儀用于眼科手術中激光參數優化...
Dimension-Labs 掃描狹縫式光斑分析儀系列采用國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術,覆蓋 190-2700nm 寬光譜,可測 2.5μm-10mm 光束直徑,0.1μm 超高分辨率突破傳統檢測極限。其創新設計實現三大優勢: 雙模式自適應檢測 通過軟件...
維度光電-BeamHere 光斑分析儀憑借高精度光束參數測量能力,為激光技術在各領域的創新應用提供支持。在工業制造中,其亞微米級光斑校準功能幫助優化激光切割、焊接與打標工藝,確保光束能量分布均勻性,提升加工一致性。醫療領域中,BeamHere 用于眼科準分子激...
Dimension-Labs 推出的掃描狹縫式光斑分析儀,通過國內的雙模式切換技術,實現 190-2700nm 寬光譜覆蓋與 2.5μm-10mm 光束直徑測量。其 0.1μm 超高分辨率可捕捉亞微米級光斑細節,創新設計解決三大檢測痛點: 小光斑測量:刀口模式...
相機式與狹縫式光斑分析儀對比指南 光斑分析儀的選擇需基于應用場景的光斑尺寸、功率、脈沖特性及形態復雜度: 1. 光斑尺寸 相機式:受限于 sensor 尺寸(≤10mm),小光斑為 55μm(10 倍 5.5μm 像元)。 狹縫式:刀口模式可測小 2.5μm ...
維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列提供高性價比光束質量檢測解決方案,涵蓋掃描狹縫式、相機式及 M2 測試模塊三大產品線: 掃描狹縫式光斑分析儀采用國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術,支持 190-2700nm 寬光譜范圍,可測量 2.5μm-10...
Dimension-Labs 掃描狹縫式光斑分析儀系列采用國內的刀口 / 狹縫雙模式切換技術,覆蓋 190-2700nm 寬光譜,可測 2.5μm-10mm 光束直徑,0.1μm 超高分辨率突破傳統檢測極限。其創新設計實現三大優勢: 雙模式自適應檢測 通過軟件...
Dimension-Labs 通過三大創新重構光斑分析標準:狹縫 - 刀口雙模式切換技術,突破傳統設備量程限制,切換時間小于 50ms;高動態范圍傳感器,實現 200-2600nm 全光譜響應,量子效率達 85%; AI 驅動的光斑模式識別算法,率達 99.7...
光斑分析儀通過光學傳感器將光斑能量分布轉化為電信號,結合算法分析實現光束質量評估。其傳感器采用量子阱材料設計,響應速度達 0.1μs,可捕捉皮秒級激光脈沖。Dimension-Labs 產品采用雙技術路線:掃描狹縫式通過 0.1μm 超窄狹縫逐行掃描,實現 2...
使用 BeamHere 光斑分析儀測量激光光斑和質量,包括以下步驟: 準備:準備 BeamHere 光斑分析儀、激光器和數據處理軟件。確保光斑傳感器放置并連接到計算機。 數據采集:啟動激光器,穩定照射傳感器,實時傳輸圖像信息到計算機。 數據分析:BeamHer...
相機式與狹縫式光斑分析儀對比指南 光斑分析儀的選擇需基于應用場景的光斑尺寸、功率、脈沖特性及形態復雜度: 光斑尺寸 ≤55μm → 狹縫式(2.5μm 精度) ≥55μm → 相機式(10mm 量程) 激光功率 ≥1W → 狹縫式(直接測量近 10W) ≤1W...
維度光電光束質量測量解決方案基于兩大技術平臺: 掃描狹縫式系統:采用正交狹縫轉動輪結構,通過 ±90° 旋轉實現 XY 軸同步掃描,結合刀口 / 狹縫雙模式切換,突破亞微米級光斑檢測極限。光學系統集成高靈敏度光電探測器,配合高斯擬合算法,實現 0.1μm 分辨...
維度光電光束質量測量解決方案應用場景 Dimension-Labs 方案覆蓋工業、醫療、科研等多領域: 工業制造:高功率激光切割 / 焊接實時監測,優化熱影響區控制;亞微米光斑檢測保障半導體晶圓劃片良率。 醫療健康:飛秒激光手術光斑能量分析,提升角膜切削精度;...
選擇適合特定應用的 BeamHere 光斑分析儀需綜合考量光束特性、應用場景及功能需求: 1. 光束特性分析 光斑尺寸:亞微米級光斑(如半導體加工)優先選擇狹縫式(支持 2.5μm 精度),毫米級光斑(如激光焊接)推薦相機式(覆蓋 10mm 量程)。 功率等級...
維度光電光束質量測量解決方案基于兩大技術平臺: 掃描狹縫式系統:采用正交狹縫轉動輪結構,通過 ±90° 旋轉實現 XY 軸同步掃描,結合刀口 / 狹縫雙模式切換,突破亞微米級光斑檢測極限。光學系統集成高靈敏度光電探測器,配合高斯擬合算法,實現 0.1μm 分辨...
針對光通信領域,Dimension-Labs 提供多芯光斑同步檢測方案:掃描狹縫式設備支持單芯 2.5μm 光斑檢測,結合 Fast Check MT 檢測儀實現 12 芯并行測試;相機式系統實現全端面成像分析,可檢測連接器端面傾斜度誤差小于 0.5°。在醫療...
維度光電光束質量測量解決方案基于兩大技術平臺: 掃描狹縫式系統:采用正交狹縫轉動輪結構,通過 ±90° 旋轉實現 XY 軸同步掃描,結合刀口 / 狹縫雙模式切換,突破亞微米級光斑檢測極限。光學系統集成高靈敏度光電探測器,配合高斯擬合算法,實現 0.1μm 分辨...
針對光通信領域,Dimension-Labs 提供多芯光斑同步檢測方案:掃描狹縫式設備支持單芯 2.5μm 光斑檢測,結合 Fast Check MT 檢測儀實現 12 芯并行測試;相機式系統實現全端面成像分析,可檢測連接器端面傾斜度誤差小于 0.5°。在醫療...
BeamHere 分析軟件作為組件,支持多設備協同工作:掃描數據自動校準、光斑模式智能識別、M2 因子三維重建。通過機器學習算法,可自動補償環境光干擾與溫度漂移。通過可視化界面,用戶可實時查看光斑能量分布云圖、發散角變化曲線及束腰位置動態圖,支持多參數聯動分析...
選擇適合特定應用的 BeamHere 光斑分析儀需綜合考量光束特性、應用場景及功能需求: 1. 光束特性分析 光斑尺寸:亞微米級光斑(如半導體加工)優先選擇狹縫式(支持 2.5μm 精度),毫米級光斑(如激光焊接)推薦相機式(覆蓋 10mm 量程)。 功率等級...
維度光電 BeamHere 系列為激光光束質量檢測提供高性價比解決方案: 掃描狹縫式:國內刀口 / 狹縫雙模式切換,覆蓋 190-2700nm 光譜,可測 2.5μm-10mm 光束,0.1μm 分辨率實現亞微米級光斑分析。創新狹縫衰減機制支持 10W 級高功...