現有的探針頭,通常采用條狀彈簧片來提供恒定壓力和在金屬探針頭上焊接上一根導電線,在結構上,每根條狀彈簧片是單獨壓在對應的探針上,每根條狀彈簧片需單獨定位,安裝困難,由于條狀彈簧片是用彈簧金屬片單獨切割而成,因而比較難保證每根條狀彈簧片都具有相同的彈力,采用條狀...
通常,參數測試系統將電流或電壓輸入被測器件(DUT),然后測量該器件對于此輸入信號的響應。這些信號的路徑為:從測試儀通過電纜束至測試頭,再通過測試頭至探針卡,然后通過探針至芯片上的焊點,到達被測器件,并然后沿原路徑返回測試儀器。如果獲得的結果不盡如人意,問題可...
鎢探針:我們生產的純鎢探針、錸鎢探針、Paliney7合金探針,主要應用于IC、LED、LCD等芯片檢測以及晶圓檢測等行業。適用于各類Pad表面。采用品質穩定的原材料,可按照不同客戶的多樣要求,提供國產或日本鎢材料,有純鎢(99.95-99.98%)、錸鎢等原...
圓棒狀鎢針結構細長,表面富有金屬質感。用于氬弧焊電極使用。氬弧焊技術是國內外發展快、應用普遍的一種焊接技術。特別是手工鎢極氬弧焊,已經成為各種金屬結構焊接中必不可少的手段。焊接時,在鎢極與工件間產生電弧,填充金屬從一側送入,在電弧熱的作用下,填充金屬與工件熔融...
觸點壓力的定義為探針頂端(測量單位為密耳或微米)施加到接觸區域的壓力(測量單位為克)。觸點壓力過高會損傷焊點。觸點壓力過低可能無法通過氧化層,因此產生不可靠的測試結果。頂端壓力主要由探針臺的驅動器件控制,額外的Z運動(垂直行程)會令其直線上升。此外,探針材質、...
鎢探針是晶圓測試過程中的耗材。替換晶圓探測鎢針勢必會在增加生產成本。晶圓探針卡是一種用于晶圓測試的工具,通常由一測試電路板和位于電路板上的針尖彎折成95-105度的錐形鎢針構成。測試時,將鎢探針的針頭直接接觸被測晶圓的襯墊,從而實現對晶圓的電性能測試。定制針尖...
觸點壓力的定義為探針頂端(測量單位為密耳或微米)施加到接觸區域的壓力(測量單位為克)。觸點壓力過高會損傷焊點。觸點壓力過低可能無法通過氧化層,因此產生不可靠的測試結果。頂端壓力主要由探針臺的驅動器件控制,額外的Z運動(垂直行程)會令其直線上升。此外,探針材質、...
觸點壓力的定義為探針頂端(測量單位為密耳或微米)施加到接觸區域的壓力(測量單位為克)。觸點壓力過高會損傷焊點。觸點壓力過低可能無法通過氧化層,因此產生不可靠的測試結果。頂端壓力主要由探針臺的驅動器件控制,額外的Z運動(垂直行程)會令其直線上升。此外,探針材質、...
鎢探針是晶圓測試過程中的耗材。替換晶圓探測鎢針勢必會在增加生產成本。晶圓探針卡是一種用于晶圓測試的工具,通常由一測試電路板和位于電路板上的針尖彎折成95-105度的錐形鎢針構成。測試時,將鎢探針的針頭直接接觸被測晶圓的襯墊,從而實現對晶圓的電性能測試。定制針尖...
鎢探針:我們生產的純鎢探針、錸鎢探針、Paliney7合金探針,主要應用于IC、LED、LCD等芯片檢測以及晶圓檢測等行業。適用于各類Pad表面。采用品質穩定的原材料,可按照不同客戶的多樣要求,提供國產或日本鎢材料,有純鎢(99.95-99.98%)、錸鎢等原...
錸鎢針(97%Tungsten,3%Rhenium),直徑是0.05-0.1mm不等,針具有高硬度、高彈性模量、檢測時無傷原器件等特點,其硬度/抗勞性佳,穩定度佳,適合長時間測試。我司可按照不同客戶的多樣要求,提供國產或日本鎢材料,T長均勻,針尖采用研磨處理,...
探針對測試結果的影響:通常,參數測試系統將電流或電壓輸入被測器件(DUT),然后測量該器件對于此輸入信號的響應。這些信號的路徑為:從測試儀通過電纜束至測試頭,再通過測試頭至探針卡,然后通過探針至芯片上的焊點,到達被測器件,并然后沿原路徑返回測試儀器。如果獲得的...
鎢探針是晶圓測試過程中的耗材。替換晶圓探測鎢針勢必會在增加生產成本。晶圓探針卡是一種用于晶圓測試的工具,通常由一測試電路板和位于電路板上的針尖彎折成95-105度的錐形鎢針構成。測試時,將鎢探針的針頭直接接觸被測晶圓的襯墊,從而實現對晶圓的電性能測試。定制針尖...
觸點壓力的定義為探針頂端(測量單位為密耳或微米)施加到接觸區域的壓力(測量單位為克)。觸點壓力過高會損傷焊點。觸點壓力過低可能無法通過氧化層,因此產生不可靠的測試結果。頂端壓力主要由探針臺的驅動器件控制,額外的Z運動(垂直行程)會令其直線上升。此外,探針材質、...
錸鎢針(97%Tungsten,3%Rhenium),直徑是0.05-0.1mm不等,針具有高硬度、高彈性模量、檢測時無傷原器件等特點,其硬度/抗勞性佳,穩定度佳,適合長時間測試。我司可按照不同客戶的多樣要求,提供國產或日本鎢材料,T長均勻,針尖采用研磨處理,...
鎢錸探針:我們生產的錸鎢探針、鎢探針和Paliney7合金探針,主要應用于IC、LED、LCD等芯片檢測以及晶圓檢測等行業。適用于各類Pad表面。采用品質穩定的原材料,可按照不同客戶的多樣要求,提供國產或日本鎢材料,有純鎢(99.95-99.98%)、錸鎢等原...
放電鎢針的放電極以50Hz頻率交替為正電壓和負電壓,放電極和接地極之間產生強電場,空氣分子被電離,放電極前列交替產生正負離子.當帶電物體表面為正電位時,負離子將其中和,反之,如果表面為負電位,正離子將其中和交流電暈產品必須接地才能正常工作,但部分正負離子會因接...
現有的探針頭,通常采用條狀彈簧片來提供恒定壓力和在金屬探針頭上焊接上一根導電線,在結構上,每根條狀彈簧片是單獨壓在對應的探針上,每根條狀彈簧片需單獨定位,安裝困難,由于條狀彈簧片是用彈簧金屬片單獨切割而成,因而比較難保證每根條狀彈簧片都具有相同的彈力,采用條狀...
鎢針針尖裸露3毫米的經典設計,有效避免了周邊組織意外熱損傷,切凝更加微創精細,更利于病人術后傷口愈合。電外科手術設備向電極傳導能量后集中于鎢針針尖,由于能量集中于針尖,所以在極低的功率下也能出色完成精細的切割和凝血操作,同時有效減少了組織的熱損傷及手術產生的煙...
在電子測試中對探針的選擇有著較高的要求,重點會考慮到探針能承載多大的電流、可適應的間距值、頭型與待測對象的適配度等等。在電子測試過程中若是探針使用不恰當或者性能達不到測試的需求,就比較容易造成損壞,影響測試的穩定性,因此探針的性能比較重要。在電子測試中,探針有...
鎢探針是晶圓測試過程中的耗材。替換晶圓探測鎢針勢必會在增加生產成本。晶圓探針卡是一種用于晶圓測試的工具,通常由一測試電路板和位于電路板上的針尖彎折成95-105度的錐形鎢針構成。測試時,將鎢探針的針頭直接接觸被測晶圓的襯墊,從而實現對晶圓的電性能測試。定制針尖...
錸鎢針(97%Tungsten,3%Rhenium),直徑是0.05-0.1mm不等,針具有高硬度、高彈性模量、檢測時無傷原器件等特點,其硬度/抗勞性佳,穩定度佳,適合長時間測試。我司可按照不同客戶的多樣要求,提供國產或日本鎢材料,T長均勻,針尖采用研磨處理,...
鎢,是一種貴金屬元素,鎢的碳化物合金具有高硬度,高熔點,高溫定性的特點;在航天,光電,醫療等領域的應用十分普遍。微創鎢針早的針是骨針,其后有木針、竹針、象牙針和金屬針。骨針早出現在舊石器時代,如中國的山頂洞人(距今1.8萬年)就使用骨針縫綴衣物。中醫使用銀針來...
探針臺是由針頭、內管和彈簧三部分組成的。因為探針在應用中十分注重它的導電性、持久性和硬度等特性的強弱,所以在安裝時也是有一定的講究的。在安裝前,要對這些部分做特殊的電鍍處理,這樣的探針才可以說是合乎規范可以應用的探針。一般用于優化接觸效果,穩定性好和壽命長。汽...
錸鎢針(97%Tungsten,3%Rhenium),直徑是0.05-0.1mm不等,針具有高硬度、高彈性模量、檢測時無傷原器件等特點,其硬度/抗勞性佳,穩定度佳,適合長時間測試。我司可按照不同客戶的多樣要求,提供國產或日本鎢材料,T長均勻,針尖采用研磨處理,...
觸點壓力的定義為探針頂端(測量單位為密耳或微米)施加到接觸區域的壓力(測量單位為克)。觸點壓力過高會損傷焊點。觸點壓力過低可能無法通過氧化層,因此產生不可靠的測試結果。頂端壓力主要由探針臺的驅動器件控制,額外的Z運動(垂直行程)會令其直線上升。此外,探針材質、...
探針臺是由針頭、內管和彈簧三部分組成的。因為探針在應用中十分注重它的導電性、持久性和硬度等特性的強弱,所以在安裝時也是有一定的講究的。在安裝前,要對這些部分做特殊的電鍍處理,這樣的探針才可以說是合乎規范可以應用的探針。一般用于優化接觸效果,穩定性好和壽命長。汽...
鎢針可分為純鎢針、稀土鎢針、摻雜鎢針。鎢針主要用于制作強度高氣體放電燈電弧管用電極。由于鎢的特性,使得它比較適合用于tiG焊接以及其它類似這種工作的電極材料。在金屬鎢中添加稀土氧化物來刺激它的電子逸出功,使得鎢電極的焊接性能得以改善:電極的起弧性能更好,弧柱的...
鎢針針尖裸露3毫米的經典設計,有效避免了周邊組織意外熱損傷,切凝更加微創精細,更利于病人術后傷口愈合。電外科手術設備向電極傳導能量后集中于鎢針針尖,由于能量集中于針尖,所以在極低的功率下也能出色完成精細的切割和凝血操作,同時有效減少了組織的熱損傷及手術產生的煙...
消融鎢絲電極,又稱射頻消融鎢針、鎢絲球形電極,是與射頻消融設備配套使用,應用于各種外科手術。為射頻消融針定制鎢材料配方,符合“生物相容性”,采用品質穩定的鎢原材料,其高溫穩定性、放電性、可靠性和機械穩定性都能滿足客戶定制要求。每根針都經過深入的密致化處理,內部...