經過多年發展,硅光芯片耦合測試系統如今已經成為受到普遍關注的熱點研究領域。利用硅的高折射率差和成熟的制造工藝,硅光子學被認為是實現高集成度光子芯片的較佳選擇。但是,硅光子學也有其固有的缺點,比如缺乏高效的硅基有源器件,極低的光纖-波導耦合效率以及硅基波導明顯的...
保偏光纖耦合系統是實現線偏振光耦合、分光以及復用的關鍵系統件。它的大特點在于能穩定地傳輸兩個正交的線偏振光,并能保持各自的偏振態不變,從而成為各種工業應用干涉型傳感系統、相干光通信、光纖陀螺以及光纖水聽系統等所需的關鍵光學系統件。光纖耦合系統是組成這些光纖傳感...
光纖耦合系統在低速領域已由實驗證明具有優良的性能,但在高速領域卻存在光纖的帶寬較低,限制了系統的時間響應這樣一個重要的因素。因此考慮采用色散較小的單模光纖,使系統的時間響應不再受限于光纖帶寬。但是這樣的話,經探頭收集到的信號光是使用多模光纖來進行接收的以盡可能...
奪消光比是保偏光纖鍋合系統一輸出端口中沿主軸X及與其正交的偏振軸Y方向傳輸的光功率之比,它反映了耦合舉對線偏振光的保偏程度。所以保偏光纖耦合系統主要應用于光纖傳感系統,如:光纖陀螺、光纖水聽系統、光纖電流傳感系統等。它是構成高精度光纖傳感系統的基礎元件之一。保...
硅光芯片耦合測試系統耦合掉電,是在耦合的過程中斷電致使設備連接不上的情況,如果電池電量不足或者使用程控電源時供電電壓過低、5V觸發電壓未接觸好、測試連接線不良等都會導致耦合掉電的現象。與此相似的耦合充電也是常見的故障之一,在硅光芯片耦合測試系統過程中,點擊HQ...
硅光芯片耦合測試系統中的硅光與芯片的耦合方法及其硅光芯片,方法包括以下步驟:1、使用微調架將光纖端面與模斑變換器區域精確對準,調節至合適耦合間距后采用紫外膠將光纖分別與固定塊和墊塊粘接固定;2、將硅光芯片粘貼固定在基板上,硅光芯片的端面耦合波導為懸臂梁結構,具...
光子晶體光纖耦合系統正在以極快的速度影響著現代科學的多個領域。利用光子帶隙結構來解決光子晶體物理學中的一些基本問題,如局域場的加強、控制原子和分子的傳輸、增強非線性光學效應、研究電子和微腔、光子晶體中的輻射模式耦合的電動力學過程等。同時,實驗和理論研究結果都表...
光纖耦合系統中的光纖是一個重要參數是光信號在光纖內傳輸時功率的損耗。在過去的30多年里,由于技術的逐漸完善,普通光纖中的損耗一直在降低,目前已經趨于本征損耗。熔融硅光纖中具有較低損耗的波長約在1550nm附近,在此波長上的損耗約為0.12dB/km。對于光子晶...
光子晶體光纖耦合系統正在以極快的速度影響著現代科學的多個領域。利用光子帶隙結構來解決光子晶體物理學中的一些基本問題,如局域場的加強、控制原子和分子的傳輸、增強非線性光學效應、研究電子和微腔、光子晶體中的輻射模式耦合的電動力學過程等。同時,實驗和理論研究結果都表...
目前,基于SOI(絕緣體上硅)材料的波導調制器成為當前的研究熱點,也取得了許多的進展,但在硅光芯片調制器的產業化進程中,面臨著一系列的問題,波導芯片與光纖的有效耦合就是難題之一。從懸臂型耦合結構出發,模擬設計了懸臂型倒錐耦合結構,通過開發相應的有效地耦合工藝來...
根據產業鏈劃分,芯片從設計到出廠的中心環節主要包括6個部分:(1)設計軟件,芯片設計軟件是芯片公司設計芯片結構的關鍵工具,目前芯片的結構設計主要依靠EDA(電子設計自動化)軟件來完成;(2)指令集體系,從技術來看,CPU只是高度聚集了上百萬個小開關,沒有高效的...
探針臺可以將電探針、光學探針或射頻探針放置在硅晶片上,從而可以與測試儀器/半導體測試系統配合來測試芯片/半導體器件。這些測試可以很簡單,例如連續性或隔離檢查,也可以很復雜,包括微電路的完整功能測試。可以在將晶圓鋸成單個管芯之前或之后進行測試。在晶圓級別的測試允...
探針臺是半導體(包括集成電路、分立器件、光電器件、傳感器)行業重要的檢測裝備之一,其普遍應用于復雜、高速器件的精密電氣測量,旨在確保質量及可靠性,并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。探針臺用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環節,負責晶圓的輸送與定位,使晶...
初TI退休工程師杰克·基比(JackSt.ClairKilby)發明顆單石集成電路,為現代半導體領域奠定基礎時,晶圓直徑不過1.25英寸~2英寸之間,生產過程多以人工方式進行。隨著6英寸、8英寸晶圓的誕生,Align/Load的校準工作和一些進階檢測也開始自動...
探針臺是半導體(包括集成電路、分立器件、光電器件、傳感器)行業重要的檢測裝備之一,其普遍應用于復雜、高速器件的精密電氣測量,旨在確保質量及可靠性,并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。探針臺用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環節,負責晶圓的輸送與定位,使晶...
保偏光纖耦合系統是實現線偏振光耦合、分光以及復用的關鍵系統件。它的大特點在于能穩定地傳輸兩個正交的線偏振光,并能保持各自的偏振態不變,從而成為各種工業應用干涉型傳感系統、相干光通信、光纖陀螺以及光纖水聽系統等所需的關鍵光學系統件。光纖耦合系統是組成這些光纖傳感...
使用光纖耦合系統通過數據進行對比分析,得出較好的耦合效率數值及此時各個耦合器件之間的距離。當多模光纖距離自聚焦透鏡為1.87mm,自聚焦透鏡距離帶球透鏡的單模光纖為1.26mm的時候,耦合效率達到較大值7.3。提出并研制出的多模光纖到單模光纖組合透鏡耦合系統結...
空間激光通信技術是以激光光束為載波進行空間信息傳輸的技術。相比傳統微波通信,具有頻帶寬、保密性強、抗電磁干擾和無需申請頻段等特點。空間激光載波通常以光學天線為接收終端,將空間光耦合進入單模或多模光纖進行信息傳輸和解調。空間光至光纖耦合系統技術是空間激光通信的關...
自動耦合光纖耦合系統產品特點:1、自動端面平行。2、自動輸入端入光確認。3、自動輸出端功率尋找。4、自動信道與信道N旋轉平衡。5、自動間距(膠層距離)控制。6、自動移動觀察鏡頭位置。7、高穩定性不銹鋼直線運動平臺。8、高重復性不銹鋼夾具。9、高精度運動平臺和促...
硅光芯片耦合測試系統是什么?硅光芯片耦合測試系統主要是用整機模擬一個實際使用的環境,測試設備在無線環境下的射頻性能,重點集中在天線附近一塊,即檢測天線與主板之間的匹配性。因為在天線硅光芯片耦合測試系統之前(SMT段)已經做過RFcable測試,所以可以認為主板...
采用球形光纖端面不只可以提高光纖與光纖之間的耦合效率,而且利于實驗光路調試。但是采用這樣一種較為簡單的耦合方法存在一些比較嚴重的問題:燒制過程中不易把握溫度及用力大小,比較難燒制出所需的球形;采用球形光纖直接耦合的耦合效率遠遠低于采用分離透鏡耦合法所能達到的耦...
耦合掉電,即在耦合的過程中斷電致使設備連接不上的情況,如果電池電量不足或者使用程控電源時供電電壓過低、5V觸發電壓未接觸好、測試連接線不良等都會導致耦合掉電的現象。與此相似的耦合充電也是常見的故障之一,在硅光芯片耦合測試系統過程中,點擊HQ_CFS的“開始”按...
硅光芯片耦合測試系統耦合掉電,是在耦合的過程中斷電致使設備連接不上的情況,如果電池電量不足或者使用程控電源時供電電壓過低、5V觸發電壓未接觸好、測試連接線不良等都會導致耦合掉電的現象。與此相似的耦合充電也是常見的故障之一,在硅光芯片耦合測試系統過程中,點擊HQ...
基于設計版圖對硅光芯片進行光耦合測試的方法及系統進行介紹,該方法包括:讀取并解析設計版圖,得到用于構建芯片圖形的坐標簇數據,驅動左側光纖對準第1測試點,獲取與第1測試點相對應的測試點圖形的第1選中信息,驅動右側光纖對準第二測試點,獲取與第二測試點相對應的測試點...
硅光芯片耦合測試系統中硅光芯片與激光器的封裝結構,封裝結構包括基座,基座設置與硅光芯片連接的基座貼合面,與激光器芯片和一體化反射鏡透鏡連接的基座上表面;基座設置通孔,通孔頂部開口與一體化反射鏡透鏡的出光面連接,通孔底部開口與硅光芯片的光柵耦合器表面連接;激光器...
光纖耦合系統分為以下幾種:1、外部耦合:一組模塊都訪問同一全局簡單變量而不是同一全局數據結構,而且不是通過參數表傳遞該全局變量的信息,則稱之為外部耦合。2、公共耦合:若一組模塊都訪問同一個公共數據環境,則它們之間的耦合就稱為公共耦合。公共的數據環境可以是全局數...
硅光芯片耦合測試系統系統的測試設備主要是包括可調激光器、偏振控制器和多通道光功率計,通過光矩陣的光路切換,每一時刻在程序控制下都可以形成一個單獨的測試環路。光源出光包含兩個設備,調光過程使用ASE寬光源,以保證光路通過光芯片后總是出光,ASE光源輸出端接入1*...
針對不同的硅光芯片結構,我們提出并且實驗驗證了兩款新型耦合器以提高硅光芯片的耦合效率。一款基于非均勻光柵的垂直耦合器,在實驗中,我們得到了超過60%的光纖-波導耦合效率。此外,我們還開發了一款用以實現硅條形波導和狹縫波導之間高效耦合的新型耦合器應用的系統主要是...
硅光芯片是將硅光材料和器件通過特殊工藝制造的集成電路,主要由光源、調制器、探測器、無源波導器件等組成,將多種光器件集成在同一硅基襯底上。硅光芯片的具有集成度高、成本低、傳輸帶寬更高等特點,因為硅光芯片以硅作為集成芯片的襯底,所以能集成更多的光器件;在光模塊里面...
硅光芯片耦合測試系統是由激光器與硅光芯片集成結構,結構包括:激光器芯片,激光器芯片包括第1波導;硅光芯片,硅光芯片包括第二波導,第二波導及第1波導將激光器芯片發出的光耦合至硅光芯片內;第1波導包括依次一體連接的第1倒錐形波導部,矩形波導部及第二倒錐形波導部;第...