XPS對于測量CEI膜的厚度有一定的局限性,因為它是一種表面敏感的技術,通常只能探測到幾個納米深度的信息。不過,通過對比不同循環次數后正極表面的XPS信號強度,可以間接推斷CEI膜的生長情況。循環前后對比:對比電池在循環前和循環后的XPS譜圖,可以觀察到由于CEI形成而導致的某些元素(如F、O等)的信號增強。深度剖析:使用氬離子刻蝕技術(Ar+ sputtering)逐層去除材料表面,同時記錄各層的XPS信號,可以獲得CEI膜的深度分布信息。通過這種方法,可以估算CEI的大致厚度。科學指南針常規類服務包括能譜類、電鏡類、熱分析類、吸附類、波譜類、光譜類、色譜質譜類、電化學類、粒度/顆粒分析類、...
XPS 的樣品一般是 5mm*5mm*3mm, 也可以更小些。XPS 分析室的真空度可以達到
通過測試充電到不同電壓后儲存一周的材料表面XPS信息,發現在高脫鋰態下儲存的電極表面的XPS信息中C-O和C=O基團的含量增多,說明Li2CO3的含量提高。其中的F1s,P2p對應的峰面積變化不大。從XPS元素分析可以得出,材料表面的SEI膜主要組成為:PEC,Li2CO3,LixPFyOz,以及有機溶劑的還原產物。而從C-O,C=O,以及O的變化來看,說明高壓下儲存,其Li2CO3含量會升高,Li+與電解液的分解反應加劇。科學指南針總部位于杭州,已在杭州、上海、北京、廣州、濟南、長沙、武漢、鄭州等十多個地區建立了研發中心,立足中國制造,為全國客戶提供先進材料的整體解決方案。XPS測試就找科學...
化學梯度是基板表面兩點之間的化學變化的區域,在單實驗中探測不同表面化學性質的影響時十分有用。XPS和角度分辨XPS可用于表征表面存在化學梯度的超薄共聚物,以1,7-辛二烯和丙烯酸共聚物為例,此類共聚物以等離子體沉積的方法制備,隨基板的運動,兩種揮發性的單體比例不斷改變,辛二烯的量減少,丙烯酸單體的量增加,一切結束后基板的一端是辛二烯,中間是辛二烯和丙烯酸的共聚物,另一端是丙烯酸。科學指南針每年持續投入5千萬元以上購買設備,表明對研發和技術創新的重視,在不斷更新技術和設備,以保持前沿地位。科學指南針的專業知識和豐富經驗可以提供高質量的測試服務。科學指南針全國共有31個分部,20個自營實驗室,可以...
通過XPS技術,可以分析正極材料表面的元素組成和化學狀態,了解其在充放電過程中的變化,從而優化正極材料的性能;XPS技術可以揭示負極材料表面的化學狀態,如鋰離子的嵌入和脫出過程,為改進負極材料的性能提供理論依據;利用XPS技術,可以分析電極材料與電解液之間的界面化學,了解界面處的電荷轉移和離子傳輸過程,為提高鋰離子電池的性能提供新的思路。科學指南針致力于為高校、科研院所、醫院、研發型企業等科研工作者提供專業、快捷、多方位的檢測及科研服務。以分析測試為重要,提供包含材料測試、環境檢測、生物實驗服務、行業解決方案、科研繪圖、模擬計算、數據分析、論文服務、試劑耗材、指南針學院等在內的科研產品和服務矩...