質譜儀在半導體和電子芯片制造中承擔著對材料成分、雜質含量等進行高精度分析的重任。其工作原理基于對離子的精確檢測與分析，而環境中的微小干擾都可能影響離子的產生、傳輸與檢測過程。例如，空氣中的塵埃顆粒可能吸附在離子源或檢測器表面，導致檢測信號失真；溫濕度的波動可能改變儀器內部電場、磁場的分布，影響離子的飛行軌跡與檢測精度。精密環控柜通過高效的空氣過濾系統，實現超高水準的潔凈度控制，確保質譜儀工作環境無塵、無雜質。同時，憑借高超的溫濕度控制能力，將溫度波動控制在極小范圍，維持濕度穩定，為質譜儀提供穩定的工作環境，保證其對半導體材料的分析結果準確可靠。在半導體產業不斷追求更高集成度、更小芯片尺寸的發展趨勢下，精密環控柜的環境保障作用愈發關鍵，助力質譜儀為半導體材料研發、芯片制造工藝優化等提供有力的數據支撐，推動半導體產業的持續創新與發展。精密環控柜可滿足可實現潔凈度百級、十級、一級等不同潔凈度要求。掃描電子顯微鏡恒溫恒濕控制室

對于光學儀器，溫度哪怕有細微變化，都會引發諸多問題。由于大多數光學儀器采用了玻璃鏡片、金屬鏡筒等不同材質的部件，這些材料熱膨脹系數各異。當溫度升高時，鏡片會膨脹，鏡筒等支撐結構也會發生相應變化，若膨脹程度不一致，就會使鏡片在鏡筒內的位置精度受到影響，光路隨之發生偏差。例如在顯微鏡觀察中，原本清晰聚焦的樣本圖像會突然變得模糊，科研人員無法準確獲取樣本細節，影響實驗數據的準確性。對于望遠鏡而言，溫度波動導致的光路變化，會讓觀測天體時的成像偏離理想位置，錯過重要天文現象的記錄。廣東質譜儀恒溫恒濕針對光學鏡片研磨車間，提供穩定溫濕度，保證鏡片加工精度。

在光學鏡片研磨這一精細入微的工藝里，溫濕度波動無疑是如影隨形的 “大敵”，對鏡片質量的影響堪稱致命。就研磨設備而言，即便是零點幾攝氏度的細微溫度變化，也會迅速讓研磨盤與鏡片材料的熱膨脹系數差異暴露無遺。這一差異會直接導致鏡片在研磨過程中受力不均，研磨效果參差不齊，鏡片的曲率精度因此大打折扣，進而嚴重影響其光學性能。而當處于高濕度環境時，空氣中彌漫的水汽就像隱匿的破壞者，極易在鏡片表面悄然凝結成水漬。這些水漬會在后續鍍膜工藝中成為棘手難題，極大地干擾鍍膜均勻性，致使鏡片的透過率和抗反射能力雙雙下滑，成品鏡片根本無法契合光學儀器所要求的嚴苛標準。

我司自主研發的高精密控溫技術，控制輸出精度達 0.1%，能精細掌控溫度變化。溫度波動控制可選 ±0.1℃、±0.05℃、±0.01℃、±0.005℃、±0.002℃等多檔，滿足嚴苛溫度需求。該系統潔凈度表現優異，可達百級、十級、一級。關鍵區域靜態溫度穩定性 ±5mK，內部溫度均勻性小于 16mK/m，為芯片研發等敏感項目營造理想溫場，保障實驗數據不受溫度干擾。濕度方面，8 小時內穩定性可達 ±0.5%；壓力穩定性為 +/-3Pa，設備還能連續穩定工作 144 小時，助力長時間實驗與制造。在潔凈度上，工作區潔凈度優于 ISO class3，既確保實驗結果準確可靠，又保障精密儀器正常工作與使用壽命，推動科研與生產進步。其控制系統精細處理循環氣流各環節，確保柜內溫濕度的超高精度控制。

電子萬能試驗機，作為材料力學性能測試設備，在金屬材料研發、塑料制品質量檢測等眾多領域廣泛應用。它能夠開展材料拉伸、壓縮、彎曲等力學性能測試，為產品質量把控與材料特性研究提供關鍵數據支撐。然而，環境溫濕度的波動對其影響極大。溫度波動時，試驗機力傳感器的精度首先受到沖擊，測量的力值出現偏差，同時還會改變材料自身的力學性能，例如金屬在高溫下屈服強度降低，導致測試結果無法真實反映材料特性。濕度波動時，試驗機的夾具、傳動部件極易生銹腐蝕，致使對試樣的夾持穩定性大打折扣，加載均勻性也難以保證，進一步降低測試精度。根據高精密行業用戶的反饋，對產品進行持續優化，不斷提升設備的適用性和穩定性。光刻機高精度恒溫恒濕控制房

為滿足多樣化需求，箱體采用高質量鈑金材質，可按需定制外觀顏色。掃描電子顯微鏡恒溫恒濕控制室

自動安全保護系統是精密環控柜的重要保障，為設備的穩定運行和用戶的使用安全提供防護。故障自動保護程序時刻監控設備的運行狀態，一旦檢測到異常情況，如溫度過高、壓力過大、電氣故障等，系統會立即啟動相應的保護措施，停止設備的危險運行，避免設備損壞或引發安全事故，實現全天候無憂運行。同時，故障實時聲光報警提醒，能及時引起用戶的注意。用戶可以根據報警信息迅速判斷故障類型和位置，及時采取應對措施。此外，遠程協助故障處理功能，使用戶能夠通過網絡與專業技術人員取得聯系，技術人員可以遠程查看設備的運行數據和故障信息，指導用戶進行故障排查和修復，縮短了故障處理時間，提高了設備的可用性。掃描電子顯微鏡恒溫恒濕控制室