嵌入式MCU的特點是執行速度快、操作簡單，但這種實現方式的專門使用性較強不容易擴展。基于PLC的控制方式，其重點在于控制部分，測量功能相對較弱，比較適合以控制為主的場合。基于PC的控制方式使用較為普遍，它具有PC機價格低廉、數據處理功能強大、測試程序開發工具豐富等優點。由于UUT的輸入輸出管腳數量較多，信號種類復雜，為滿足自動測試設備的通用性，在ITA設計時， 必須采用多通道開關，(1)是對PCB的信號通道進行自動切換；(2)是對PCB的信號進行調理，使調理后的信號能夠滿足測試儀器的量程范圍；(3)是對PCB和測試儀器的保護，避免操作失誤或外界干擾而對PCBA和測試設備造成損壞。功能測試系統可提高產品質量和可靠性。上海測試系統測試流程
治具，常規的治具設計，大多采用雙載板平衡桿和針板平衡桿。在測試過程中壓板下壓時，如果壓板、載板、針板固定不佳，容易產生晃動，從而使UUT產生翹邊變形，進行而導致測試針和測試點接觸不良或者位置偏移，使得測試針彎曲變形引起誤測甚至導致UUT裂損。上述情況的發生，尤其是在UUT的厚度發生較大變化時更容易產生。治具定位原理，根據電路板的不同, 可采用以下幾種定位方式根據工件的不同情況。1、以外緣輪廓定位，對于面積尺寸較小而且外廓一致性較好的電路板，可采用外輪廓定位方式。長邊用定位板，限制2個自由度；短邊用定位針，限制1個自由度。在另一短邊，還可以增加1只定位針，形成所謂的約束性過定位。這種方式中，兩根定位柱所限位的尺寸應比UUT尺寸略大，在0.3mm～0.5mm即可。雖然由于此間隙的存在，定位精度會略有降低，但操作方便、制造簡單。2、以“邊/孔”定位，對于面積尺寸較大的電路板，可以采用“邊/孔”定位，這也屬于約束性過定位的一種。定位板限制2個自由度，定位柱限制2個自由度。這種形式中，通常定位柱和UUT定位孔的間隙需要留的更大一些。上海測試系統測試流程功能測試系統普遍用于電子產品的功能性驗證。
應用電子技術方面的測試，印刷電路板，又稱印制電路板，印刷線路板，常使用英文縮寫PCB（Printed circuit board），是重要的電子部件，是電子元件的支撐體，是電子元器件線路連接的提供者。由于它是采用電子印刷技術制作的，故被稱為“印刷”電路板。在印制電路板出現之前，電子元件之間的互連都是依靠電線直接連接而組成完整的線路。電路面包板只是作為有效的實驗工具而存在，而印刷電路板在電子工業中已經成了占據了一定統治的地位。
操作系統，可供電路板測試選擇的操作系統很多，例如UNIX、OS、Windows、Solaris等，選擇操作系統時受限于硬件設備的支持、程序人員的技術水平、操作系統的普及程度和操作系統本身特點等諸多因素，趨于采用廣為普及的Windows操作系統。總線技術，電路板測試技術的發展與儀器控制總線的發展永遠是密切相關的，儀器控制總線的每一次更新都促進電路板測試技術的更新。儀器控制總線有GPIB總線、VXI總線和PXI總線三種，它們是發展過程中依次出現的總線技術，表示著電路板測試技術的發展歷程。GPIB總線是早期出現的儀器接口控制總線，多用于常見的臺式儀器上，采用該總線集成的系統體積大、數據傳輸速率低（較大數據傳輸速率為1MB/s）且同一系統總線上較多可連15臺儀器。功能測試系統有利于產品上市前的全方面驗收。
軟件模塊，功能測試軟件的主要功模塊包括：1、程序運行模塊；2、資源管理模塊；3、腳本管理模塊；4、數據管理模塊；5、權限管理模塊...程序運行平臺，執行環境具有功能強大的測試程序控制功能，既能為高水平技術人員提供多種測試程序控制功能及故障排除功能，也為較基本的操作人員提供極其簡單的GO/NOGO測試方式。資源管理，資源管理主要包括驅動管理、儀器配置、接口配置。腳本管理平臺，腳本管理一般為使用廣為熟悉的類C的語法，具有完整的腳本編寫、調試、運行環境。腳本可以系統自動生成，并可以由用戶進行修改和編輯。數據管理平臺，數據管理平臺可以根據日期分開保存Fail和Pass產品序列號、測試人員、測試時間、測試每項實際值及結果；可以自動統計測試結果資料，對不良品和返修品可以隨時根據日期或批次，查詢對應S/N號的測試結果狀態等。靜動態功能測試系統可測試產品在靜態和動態條件下的性能。上海測試系統測試流程
高效測試：功能測試系統提高測試效率，縮短產品研發周期。上海測試系統測試流程
由于自動測試速度極快，各測試步驟之間不易分清，難以檢測出故障。又因測試的關鍵部分無人參與，測試程序和被測單元電路圖中的錯誤無人察覺。因此，自動測試系統的硬件和軟件均應有良好的可靠性，方能保證系統的可靠性。自動測試系統的設計、使用、維護和管理都是極其復雜的課題。先進的元器件、計算機、機器人和人工智能技術推動自動測試系統向數字化和智能化的方向發展。由之而來對測試過程中所需要的工裝（夾具）不斷提出要求，于是電路板測試儀（又稱電子測試工裝）應運而生。上海測試系統測試流程