測厚儀用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構件在制造和檢修時必須測量其厚度，以便了解材料的厚薄規格，各點均勻度和材料腐蝕、磨損程度；有時則要測定材料表面的覆蓋層厚度，以保證產品質量和生產安全。根據測定原理的不同，常用測厚儀有超聲、磁性、渦流、同位素等四種。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。測厚儀電訊號輸給顯示器和自動厚度控制系統，以實現對板帶厚度的自動厚度控制（AGC）。甘肅涂鍍層測厚儀

    鋼板測厚會由于各種要素如晶粒度、內應力、組織、耦合劑、表面情況、溫度、內部缺陷等對測厚的成果發作一定的過失影響，因此在用超聲波測厚儀精確測量鋼板厚度的進程要盡量避免以上要素的影響來判定測量的方法。相應的測厚方法進程如下：鋼板被檢部位的表面處理根除鋼板所需檢查部位表面的塵土、污垢、氧化皮、銹蝕物、油漆等掩蓋物，關于粗糙表面可以用400#砂紙打磨以暴露金屬光澤，區域大小約為30×30mm。對比試塊的制作：1)對比試塊的選擇。對比賽塊材料質量的關鍵是它的聲學特性有必要與被檢工件底子一起，即材料的晶粒度、熱處理情況、物理功用、化學成分等均需與被檢件一起。為此選用被檢查的鋼板本體來制作對比賽塊，以確保試塊和被檢鋼板兩種材料的聲學功用一起。2)對比試塊的制作。在距被檢鋼板邊部10mm的無缺陷處平整區域，按測量進程1的懇求，對鋼板的上下相對方位的表面進行處理，面積約為30×50mm。 青海鋁箱測厚儀設計、安裝測厚儀時要在可能的條件下盡量靠近工作輥，目的是降低板厚的滯后調整時間。

    金屬測厚儀示值的因素：(1)工件表面粗糙度過大，造成探頭與接觸面耦合效果差，反射回波低，甚至無法接收到回波信號。對于表面銹蝕，耦合效果極差的在役設備、管道等可通過砂、磨、挫等方法對表面進行處理，降低粗糙度，同時也可以將氧化物及油漆層去掉，露出金屬光澤，使探頭與被檢物通過耦合劑能達到很好的耦合效果。(2)工件曲率半徑太小，尤其是小徑管測厚時，因常用探頭表面為平面，與曲面接觸為點接觸或線接觸，聲強透射率低(耦合不好)。可選用小管徑特用探頭(＜6mm),能較精確的測量管道等曲面材料。(3)檢測面與底面不平行，聲波遇到底面產生散射，探頭無法接受到底波信號。(4)鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大，超聲波在其中穿過時產生嚴重的散射衰減，被散射的超聲波沿著復雜的路徑傳播，有可能使回波湮沒，造成不顯示。可選用頻率較低的粗晶特用探頭()。(5)探頭接觸面有一定磨損。常用測厚探頭表面為丙烯樹脂，長期使用會使其表面粗糙度增加，導致靈敏度下降，從而造成顯示不正確。可選用500#砂紙打磨，使其平滑并保證平行度。如仍不穩定，則考慮更換探頭。

  超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量，如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。可以對各種板材和加工零件作精確測量，另一重要方面是可以對生產設備中各種管道和壓力容器進行監測，監測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度。應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。

  薄膜測厚儀，又稱為測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等，薄膜測厚儀專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。在選擇薄膜測厚儀時，一定要對薄膜測厚儀有了解，這樣才能更好的挑選測厚儀。薄膜測厚儀是用于測量在一定量程范圍內的各種材料的厚度。對產品測量使用到厚度測量，是整個加工工業領域當中，非常重要的因素所在。也是確保產品質量，非常重要的工序。而與此同時，在國內都采用了統一的方式，因此測量結果更加準確。測厚儀安放位置均在板帶軋機的出口或入 口側。廣西金屬測厚儀

測厚儀使用時的注意事項是什么？甘肅涂鍍層測厚儀

  涂層測厚儀主要是利用磁感應原理或者電渦流測量原理等來測量導磁材料上的非磁性涂層厚度。涂層測厚儀測量方便快捷,并且測量誤差小、可靠性高,在產品進行涂層加工時可以有保證產品質量,因而廣泛應用于機械加工和檢測行業。涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產品質量必不可少的檢測儀器，較多地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。甘肅涂鍍層測厚儀

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