2.界面探針(Interface Probes)非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的，例如泰瑞達(dá)（Teradyne）和安捷倫（Agilent）．用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面．3.微型探針（MicroSeries Probes）兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm．4.開(kāi)關(guān)探針（Switch Probes）開(kāi)關(guān)探針單獨(dú)一支探針有兩路電流．5.高頻探針（Coaxial Probes）用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的．6.旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes）彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng)，一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試．“Wi-Fi信道掃描工具”處于被動(dòng)監(jiān)測(cè)模式,無(wú)需用戶主動(dòng)連接某個(gè)WiFi,需打開(kāi)手機(jī)WiFi功能時(shí)即可捕獲。靜安區(qū)特制探針品牌

這樣我們可以事先建立一系列θ角與相應(yīng)元素的對(duì)應(yīng)關(guān)系，當(dāng)某個(gè)由電子束激發(fā)的X特征射線照射到分光晶體上時(shí)，我們可在與入射方向交成2θ角的相應(yīng)方向上接收到該波長(zhǎng)的X射線信號(hào)，同時(shí)也就測(cè)出了對(duì)應(yīng)的化學(xué)元素。只要令探測(cè)器連續(xù)進(jìn)行2θ角的掃描，即可在整個(gè)元素范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)連續(xù)測(cè)量。由分光晶體所分散的單一波長(zhǎng)X射線被X射線檢測(cè)器接受，常用的檢測(cè)器一般是正比計(jì)數(shù)器。當(dāng)某一X射線光子進(jìn)入計(jì)數(shù)管后，管內(nèi)氣體電離，并在電場(chǎng)作用下產(chǎn)生電脈沖信號(hào)。閔行區(qū)標(biāo)準(zhǔn)探針現(xiàn)價(jià)電子探針和掃描電鏡在電子光學(xué)系統(tǒng)的構(gòu)造基本相同，它們常常組合成單一的儀器。

電子探針儀鏡筒部分的構(gòu)造大體上和掃描電子顯微鏡相同，只是在檢測(cè)器部分使用的是X射線譜儀、專門用來(lái)檢測(cè)X射線的特征波長(zhǎng)或特征能量，以此來(lái)對(duì)微區(qū)的化學(xué)成分進(jìn)行分析。因此，除專門的電子探針儀外，有相當(dāng)一部分電子探針儀是作為附件安裝在掃描電鏡或透射電鏡鏡筒上，以滿足微區(qū)組織形貌、晶體結(jié)構(gòu)及化學(xué)成分三位一體同位分析的需要 [1]。用波長(zhǎng)色散譜儀（或能量色散譜儀）和檢測(cè)計(jì)數(shù)系統(tǒng)，測(cè)量特征X射線的波長(zhǎng)（或能量）和強(qiáng)度，即可鑒別元素的種類和濃度。

利用電子探針?lè)治龇椒梢蕴街牧蠘悠返幕瘜W(xué)組成以及各元素的重量百分?jǐn)?shù)。分析前要根據(jù)試驗(yàn)?zāi)康闹苽錁悠罚瑯悠繁砻嬉鍧崱Ｓ貌ㄗV儀分析樣品時(shí)要求樣品平整，否則會(huì)降低測(cè)得的X射線強(qiáng)度。定性分析1 點(diǎn)分析用于測(cè)定樣品上某個(gè)指定點(diǎn)的化學(xué)成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點(diǎn)分析結(jié)果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征X射線信號(hào)同時(shí)檢測(cè)和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。2 線分析用于測(cè)定某種元素沿給定直線分布的情況。方法是將X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測(cè)量的某元素特征X射線信號(hào)（波長(zhǎng)或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃描，便可得到該元素沿直線特征X射線強(qiáng)度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的X射線強(qiáng)度分布。下圖為50CrNiMo鋼中夾雜Al2O3的線分析像。可見(jiàn)，在Al2O3夾雜存在的地方，Al的X射線峰較強(qiáng)。這種神秘的Wi-Fi探針,實(shí)際是“WiFi信道掃描工具”。

電子探針儀（圖1）主要包括：探針形成系統(tǒng) (電子槍、加速和聚焦部件等)、X射線信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)和顯示、記錄系統(tǒng)、樣品室、高壓電源和掃描系統(tǒng)以及真空系統(tǒng)。電子探針的**早應(yīng)用領(lǐng)域是金屬學(xué)。對(duì)合金中各組成相、夾雜物等可作定性和定量分析，直觀而方便，還能較準(zhǔn)確地測(cè)定元素的擴(kuò)散和偏析情況。此外，它還可用于研究金屬材料的氧化和腐蝕問(wèn)題，測(cè)定薄膜、滲層或鍍層的厚度和成分等，是機(jī)械構(gòu)件失效分析、生產(chǎn)工藝的選擇、特殊用材的剖析等的重要手段。圖2為鎂合金中稀土氧化物在晶界析出的電子探針?lè)治稣掌？梢赃M(jìn)行點(diǎn)、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。崇明區(qū)標(biāo)準(zhǔn)探針品牌

電子探針在鏡筒部分與掃描電鏡明顯不同之處是由光學(xué)顯微鏡。靜安區(qū)特制探針品牌

探針的標(biāo)記方式有放射性標(biāo)記和非放射性標(biāo)記。標(biāo)記物質(zhì)有放射性元素（如32P等）和非放射性物質(zhì)（如生物素、地高辛等）。32P是**常用的核苷酸標(biāo)記同位素，被標(biāo)記的dNTP本身就帶有磷酸基團(tuán)，便于標(biāo)記。特點(diǎn)是比活性高，可達(dá)9000Ci/mmol；發(fā)射的β射線能量高。用它標(biāo)記的探針自顯影時(shí)間短，靈敏度高。32P的半壽期短，雖使用不方便，但為廢棄物的處理減輕了壓力。非放射性標(biāo)記法有酶標(biāo)法和化學(xué)物標(biāo)記法。酶標(biāo)方法與免疫測(cè)定ELISA方法相似，只是被標(biāo)記的核酸代替了被標(biāo)記的抗體，事實(shí)上被標(biāo)記的抗體也稱為探針，現(xiàn)有許多商品是生物素、地高辛標(biāo)記的。靜安區(qū)特制探針品牌

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