X射線熒光光譜儀的原理是什么？ X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。 近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種普遍應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得多也普遍。 　　大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。選擇衍射儀應該注意什么？上海澤權告訴您。上海奧林巴斯BTX小型臺式XRD價格

X射線單晶體衍儀器基本公式： 由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點陣表示。而一個三維點陣可簡單地用一個由八個相鄰點構成的平行六面體（稱晶胞）在三維方向重復得到。一個晶胞形狀由它的三個邊（a,b,c）及它們間的夾角（γ，α，β）所規定，這六個參數稱點陣參數或晶胞參數。這樣一個三維點陣也可以看成是許多相同的平面點陣平行等距排列而成的，這樣一族平面點陣稱為一個平面點陣族，常用符號HKL（HKL為整數）來表示。一個三維空間點陣劃分為平面點陣族的方式是很多的，其平面點陣的構造和面間距d可以是不同的。晶體結構的周期性就可以由這一組dHKL來表示。寧波衍射儀批發市場衍射儀的規格介紹。歡迎來電咨詢上海澤權！

測角儀是X射線衍射儀的中心部件，主要由光闌、發散狹縫、接收狹縫、防散射狹縫、樣品座及閃爍探測器等組成。衍射儀中常用的探測器是閃爍計數器，它是利用X射線能在某些固體物質（磷光體）中產生的波長在可見光范圍內的熒光，這種熒光再轉換為能夠測量的電流。由于輸出的電流和計數器吸收的X光子能量成正比，因此可以用來測量衍射線的強度。衍射儀控制與衍射數據采集、處理系統掃描操作完成后，衍射原始數據自動存入計算機硬盤中供數據分析處理。數據分析處理包括平滑點的選擇、背底扣除、自動尋峰、d值計算、衍射峰強度計算等。

輻射波長對衍射峰強的關系是：衍射峰強主要取決于晶體結構，但是樣品的質量吸收系數（MAC）與入射線的波長有關，因此同一樣品用不同耙獲得的圖譜上的衍射峰強度會有稍微的差別。特別是混合物，各相之間的MAC都隨所選波長而變化，波長選擇不當很可能造成XRD定量結果不準確。因為不同元素MAC突變擁有不同的波長，該波長就稱為材料的吸收限，若超過了這個范圍就會出現強的熒光散射。X射線衍射作為一電磁波投射到晶體中時，會受到晶體中原子的散射，而散射波就像從原子中心發出，每個原子中心發出的散射波類似于源球面波。X射線單晶體衍儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。

X射線衍射法，對樣品測試收費要遠高于紅外光譜的。如果你是單純想測量薄膜的精確厚度，可以用紅外光譜法（IR),精確度可達cm^(-1)量級。在紅外光譜范圍內，1000cm^(-1)=10μm,1cm^(-1)=0.01μm. 由于入射到膜的內外層表面的反射光達到一定相位差時會引起干涉，通過薄膜兩個表面對紅外線的透射-反射-反射光與一次透射光形成的干涉條紋。干涉條紋有三四十個波峰-波谷之多，分布在一定的波長范圍內；根據測定結果，利用公式計算出薄膜的厚度。該方法操作簡便,測定速度快,應用于實際樣品的無損測定,結果滿意。 上海的衍射儀服務廠家。歡迎來電咨詢上海澤權！江蘇奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀批發市場

x射線粉末衍射可以判斷是何種晶體物質。上海奧林巴斯BTX小型臺式XRD價格

X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象,物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。因此,X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學方法,已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。上海奧林巴斯BTX小型臺式XRD價格