原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，簡稱AFM）利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率；由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于一九八五年所發明的，其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測方法。原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）差別在于并非利用電子隧穿效應，而是檢測原子之間的接觸，原子鍵合，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來呈現樣品的表面特性；本系統采用數字反饋控制回路，用戶在控制軟件的參數工具欄通過以參考電流；上海原子力顯微鏡測試公司

原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，簡稱AFM）利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于一九八五年所發明的，其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測方法。原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）差別在于并非利用電子隧穿效應，而是檢測原子之間的接觸，原子鍵合，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來呈現樣品的表面特性、贛州原子力顯微鏡測試服務在系統檢測成像全過程中，探針和被測樣品間的距離始終保持在納米（10e-9米）量級；

在AFM 觀察包裹有紫膜的噬菌調理素蛋白（BR) 的研究中，AFM 儀器的改進，檢測技術的提高和制樣技術的完善得到了集中的體現。在細胞中，分子馬達可以將化學能轉變為機械運動，防止因為布朗運動導致的細胞中具有方向性的活動出現錯誤，這些活動包括：肌漿球蛋白，運動蛋白，動力蛋白，螺旋酶，DNA 聚合酶和RNA 聚合酶等分子馬達蛋白的共同特點是沿著一條線性軌道執行一些與生命活動息息相關的功能，比如肌肉的收縮，細胞的分化過程中染色體的隔離，不同細胞間的細胞器的置換以及基因信息的解碼和復制等。由于分子馬達本身的微型化，它們容易受更高的熱能和大的波動的影響，了解馬達分子如何正常有序工作就成為一項具有挑戰性的任務。利用AFM，人們已經知道了肌動蛋白結合蛋白的結構信息和細胞運動過程中肌動蛋白骨架調控功能。

    原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，簡稱AFM）是一種用于研究表面形貌和表面特性的高分辨率掃描探針顯微鏡。它利用微懸臂上的針尖與樣品表面之間的相互作用力來獲取表面形貌和表面特性信息。AFM可以測試各種材料表面的形貌、粗糙度、彈性、硬度、化學反應等特性，廣泛應用于納米科學研究領域。AFM測試的內容主要包括以下幾個方面：1.表面形貌：AFM可以獲取表面形貌的高分辨率圖像，包括表面起伏、溝壑、顆粒大小等特征。這對于研究表面微觀結構、表面處理效果以及材料性能等方面具有重要意義。2.表面粗糙度：AFM可以測量表面粗糙度，即表面微小起伏和波紋的幅度和頻率。這對于研究表面加工質量、材料表面處理效果以及摩擦學等領域具有重要意義。3.彈性：AFM可以測量樣品的彈性，包括彈性模量和泊松比等參數。這對于研究材料力學性能、材料內部結構以及納米尺度下的力學行為等方面具有重要意義。4.硬度：AFM可以測量樣品的硬度，即針尖在樣品表面劃過時所受到的阻力。這對于研究材料硬度分布、材料內部結構以及納米尺度下的力學行為等方面具有重要意義。5.化學反應：AFM可以觀察表面化學反應的動態過程，包括化學反應前后表面形貌的變化、化學反應產物的生成等； 它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。

二極管激光器（Laser Diode）發出的激光束經過光學系統聚焦在微懸臂（Cantilever）背面，并從微懸臂背面反射到由光電二極管構成的光斑位置檢測器（Detector）。在樣品掃描時，由于樣品表面的原子與微懸臂探針的原子間的相互作用力，微懸臂將隨樣品表面形貌而彎曲起伏，反射光束也將隨之偏移，因而，通過光電二極管檢測光斑位置的變化，就能獲得被測樣品表面形貌的信息。

在系統檢測成像全過程中，探針和被測樣品間的距離始終保持在納米（10e-9米）量級，距離太大不能獲得樣品表面的信息，距離太小會損傷探針和被測樣品，反饋回路(Feedback）的作用就是在工作過程中，由探針得到探針-樣品相互作用的強度，來改變加在樣品掃描器垂直方向的電壓，從而使樣品伸縮，調節探針和被測樣品間的距離，反過來控制探針-樣品相互作用的強度，實現反饋控制。因此，反饋控制是本系統的主要工作機制。本系統采用數字反饋控制回路，用戶在控制軟件的參數工具欄通過以參考電流、積分增益和比例增益幾個參數的設置來對該反饋回路的特性進行控制。 在原子力顯微鏡的系統中，可分成三個部分：力檢測部分、位置檢測部分、反饋系統。新鄉原子力顯微鏡測試廠家

檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。上海原子力顯微鏡測試公司

    原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，簡稱AFM）是一種用于研究表面形貌和表面特性的高分辨率掃描探針顯微鏡。它利用微懸臂上的針尖與樣品表面之間的相互作用力來獲取表面形貌和表面特性信息。AFM可以測試各種材料表面的形貌、粗糙度、彈性、硬度、化學反應等特性，廣泛應用于納米科學研究領域。AFM測試的內容主要包括以下幾個方面：1.表面形貌：AFM可以獲取表面形貌的高分辨率圖像，包括表面起伏、溝壑、顆粒大小等特征。這對于研究表面微觀結構、表面處理效果以及材料性能等方面具有重要意義。2.表面粗糙度：AFM可以測量表面粗糙度，即表面微小起伏和波紋的幅度和頻率。這對于研究表面加工質量、材料表面處理效果以及摩擦學等領域具有重要意義。3.彈性：AFM可以測量樣品的彈性，包括彈性模量和泊松比等參數。這對于研究材料力學性能、材料內部結構以及納米尺度下的力學行為等方面具有重要意義。4.硬度：AFM可以測量樣品的硬度，即針尖在樣品表面劃過時所受到的阻力。這對于研究材料硬度分布、材料內部結構以及納米尺度下的力學行為等方面具有重要意義。5.化學反應：AFM可以觀察表面化學反應的動態過程，包括化學反應前后表面形貌的變化、化學反應產物的生成等。 上海原子力顯微鏡測試公司