觸點壓力的定義為探針頂端（測量單位為密耳或微米）施加到接觸區域的壓力（測量單位為克）。觸點壓力過高會損傷焊點。觸點壓力過低可能無法通過氧化層，因此產生不可靠的測試結果。頂端壓力主要由探針臺的驅動器件控制，額外的Z運動（垂直行程）會令其直線上升。此外，探針材質、探針直徑、光束長度、和尖錐長度都在決定頂端壓力時起重要的作用。從本質上來說，隨著探針開始接觸并逐漸深入焊點氧化物和污染物的表層，接觸電阻減小而電流流動迅速開始。隨著探針接觸到焊點金屬的亞表層，這些效應將增加。盡管隨著探針壓力的增強，接觸電阻逐漸降低，終它會達到兩金屬的標稱接觸電阻值。高電流探針：探針直徑在2.54mm-4.75mm之間。大的測試電流可達39amps。微型探針市場價

探針臺是由針頭、內管和彈簧三部分組成的。因為探針在應用中十分注重它的導電性、持久性和硬度等特性的強弱，所以在安裝時也是有一定的講究的。在安裝前，要對這些部分做特殊的電鍍處理，這樣的探針才可以說是合乎規范可以應用的探針。一般用于優化接觸效果，穩定性好和壽命長。汽車線束測試測試探針專業用于汽車線束通斷檢測，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等。電子探針可以對試樣中微小區域（微米級）的化學組成進行定性或定量分析。可以進行點、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動進行批量（預置9999測試點）定量分析。比較少用。高電流探針：探針直徑在2.54mm-4.75mm之間。大的測試電流可達39amps。無錫加工探針供應商家探針具有的功能：用于測量半導體材料、功能材料。

提供的探針采用品質穩定的原材料，含國產或日本鎢材料，有純鎢（99.95-99.98%）、錸鎢等原料。我們綜合運用電化學、機械加工、電鍍工藝，精深加工，確保探針一致性。具有高硬度、高彈性模量等特點，檢測時無傷原器件，已批量應用于LED芯片檢測領域。其導電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和機械穩定性可滿足客戶定制要求。通常的稀土添加劑有氧化鈰、氧化鑭、氧化鋯、氧化釔和氧化釷等。鎢是一種金屬，是天然存在在地球上。它也被稱為鎢及有W的它被確定為1781年的新元素的化學符號，并初次分離為在1783年的金屬。

接觸電阻即探針尖與焊點之間接觸時的層間電阻。通常不能給出具體的指標，因為實際的接觸電阻比較難測量。一般，信號路徑電阻被用來替代接觸電阻，而且它在眾多情況下更加相關。在檢測虛焊和斷路的時候，探針卡用戶經常需要為路徑電阻指定一個標稱值。信號路徑電阻是從焊點到測試儀的總電阻，即接觸電阻、探針電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。但是，接觸電阻是信號路徑電阻的重要組成部分。在實際使用中，探針的接觸電阻在比較大程度上取決于焊點的材料、清洗的次數、以及探針的狀況，而且它同標稱值相差較多。半導體探針：直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。

探針對測試結果的影響：通常，參數測試系統將電流或電壓輸入被測器件（DUT），然后測量該器件對于此輸入信號的響應。這些信號的路徑為：從測試儀通過電纜束至測試頭，再通過測試頭至探針卡，然后通過探針至芯片上的焊點，到達被測器件，并然后沿原路徑返回測試儀器。如果獲得的結果不盡如人意，問題可能是由測量儀器或軟件所致，也可能是其它原因造成。通常情況下，測量儀器引進一些噪聲或測量誤差。而更可能導致誤差的原因是系統的其它部件，其中之一可能是，它會受探針參數的影響，如探針的材料、針尖的直徑與形狀、焊接的材質、觸點壓力、以及探針臺的平整度。此外，探針尖磨損和污染也會對測試結果造成極大的負面影響。探針的頂端壓力主要由探針臺的驅動器件控制，額外的Z運動（垂直行程）會令其直線上升。無錫加工探針供應商家

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通常，參數測試系統將電流或電壓輸入被測器件（DUT），然后測量該器件對于此輸入信號的響應。這些信號的路徑為：從測試儀通過電纜束至測試頭，再通過測試頭至探針卡，然后通過探針至芯片上的焊點，到達被測器件，并然后沿原路徑返回測試儀器。如果獲得的結果不盡如人意，問題可能是由測量儀器或軟件所致，也可能是其它原因造成。在檢測虛焊和斷路的時候，探針卡用戶經常需要為路徑電阻指定一個標稱值。信號路徑電阻是從焊點到測試儀的總電阻，即接觸電阻、探針電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。但是，接觸電阻是信號路徑電阻的重要組成部分。微型探針市場價

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