維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列,整合掃描狹縫式、相機式及 M2 測試模塊三大產品線,為激光光束質量檢測提供全場景解決方案。 掃描狹縫式光斑分析儀刀口 / 狹縫雙模式切換技術,覆蓋 190-2700nm 寬光譜,支持 2.5μm-10mm 光束直徑測量。0.1μm 超高分辨率可捕捉亞微米級光斑細節,無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光,適用于激光加工、醫療設備等高能量場景。 相機式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段,支持 2D/3D 實時成像與動態分析,可測量非高斯光束(如平頂、貝塞爾光束)。獨特的六濾光片轉輪設計實現功率范圍擴展,可拆卸結構支持科研成像功能拓展。 M2 測試模塊適配全系產品,通過 ISO 11146 標準算法測量光束傳播參數(M2 因子、發散角、束腰位置等),結合 BeamHere 軟件實現一鍵生成報告、多參數同步分析。系統以模塊化設計滿足光通信、醫療、工業等領域的光斑檢測需求,兼顧實驗室與產線在線監測場景。無干涉條紋的光斑質量分析儀。維度科技光斑分析儀官網
維度光電深刻認識到高功率光束檢測在激光應用中的性和難度。大多數光斑分析儀使用的面陣傳感器在**功率下就會飽和,而常規激光器功率普遍較高,這使得大功率光束檢測成為激光應用的難點。為解決這一問題,維度光電推出 BeamHere 光斑分析儀系列和大功率光束取樣系統。掃描狹縫式光斑分析儀憑借創新的狹縫物理衰減機制,可直接測量近 10W 高功率激光,保障了測試過程的安全與高效。為應對更高功率,又推出單次和雙次取樣配件,可疊加使用形成多次取樣系統。搭配合適衰減片,可測功率超 1000W。單次取樣配件 DL - LBA - 1,取樣率 4% - 5%,采用 45° 傾斜設計和 C 口安裝,有鎖緊環可固定在任意方向測量不同角度入射激光;雙次取樣配件 DL - LBA - 2,取樣率 0.16% - 0.25%,內部兩片取樣透鏡緊湊安裝,能應對 400W 功率光束,多面體結構便于工業或實驗環境安裝。組合安裝配件可獲得高衰減程度,實現更高功率激光測量。同時,其緊湊結構設計的取樣光程滿足聚焦光斑測量,單次 68mm,雙次 53mm,為激光生產提供了強大的檢測支持。光束直徑光斑分析儀費用是多少國產光斑分析儀哪個好?維度光電光斑分析儀全系列。
Dimension-Labs 突破性推出 Beamhere 智能光斑分析平臺,通過模塊化設計實現光束質量全參數檢測。該系統采用高靈敏度傳感器陣列,可實時測繪光斑能量分布,同步計算發散角及 M2 因子等指標。針對光束整形、聚焦優化等場景,系統提供專業分析模板,支持 ISO11146 標準參數輸出。可選配的 M2 測試模塊通過滑軌式掃描技術,實現光束傳播特性的三維重建,終由 AI 算法自動生成包含能量集中度、橢圓率等 20 + 參數的測試報告。 產品優勢: 滿足測試需求的全系列產品 適配所有Beamhere光斑分析儀的M M2因子測試模塊 精心設計的分析軟件。 軟件真正做到交互友好,簡單易用,一鍵輸出測試報告。
Dimension-Labs 維度光電相機式光斑分析儀系列覆蓋 400-1700nm 寬光譜范圍,實現可見光與近紅外波段光斑的實時檢測。其優勢包括: 動態分析能力 支持 2D 光斑實時成像與 3D 功率分布動態顯示,高幀率(100fps)連續測量模式可捕捉光斑瞬態變化,3D 視圖支持任意角度旋轉分析,為光學系統調試提供直觀數據支持。 復雜光斑適應性 基于面陣傳感器技術,可測量非高斯光束(如平頂、貝塞爾光束)及含高階橫模的復雜光斑,突破傳統掃描式設備的局限性。 功率調節 標配 6 片不同衰減率的濾光片(0.1%-100%),通過轉輪結構實現一鍵切換,可測功率達 10W/cm2,滿足從弱光器件到高功率激光的全量程需求。 科研級擴展性 采用模塊化設計,相機與濾光片轉輪可分離使用。拆卸后的相機兼容通用驅動軟件,支持科研成像、光譜分析等擴展應用,實現工業檢測與實驗室的一機多用。用于千瓦光斑測量的大功率配件。
維度光電作為全球激光測量領域解決商,致力于打造 "三橫三縱" 產品矩陣: 橫向覆蓋: 光譜范圍:190-2700nm 全波段 光斑尺寸:0.1μm-10mm 全尺寸 功率等級:1μW-10W 全功率 縱向深度: 工業級:支持產線在線監測與自動化對接 醫療級:符合 ISO 13485 認證,保障臨床精度 科研級:開放 API 接口支持自定義算法 差異化優勢: 同時提供雙技術方案的廠商(狹縫式 + 相機式) AI 算法庫支持光束質量預測性維護 模塊化設計實現設備功能動態擴展 適合各類激光應用中激光光束質量測量與分析。近場光斑測試方案,推進半導體,硅光行業優化升級。可見光光斑分析儀性能
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維度光電Dimension-Labs BeamHere 系列作為全光譜光束分析解決方案,致力于為激光技術應用提供 "一站式" 質量管控工具。產品矩陣覆蓋 190-2700nm 超寬光譜,融合掃描狹縫式(2.5μm-10mm 光斑)與相機式(400-1700nm 成像)兩大技術平臺,形成從亞微米級高功率檢測到毫米級動態監測的立體覆蓋。通過 ISO 11146 認證的 M2 因子測試模塊,結合 AI 算法,實現光束質量的量化評估與預測。模塊化設計支持設備功能動態擴展,適配激光加工、醫療、科研等多場景需求,助力客戶構建智能化光束檢測體系。維度科技光斑分析儀官網