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激光光斑分析儀

來源: 發布時間:2025-04-24

維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列,整合掃描狹縫式、相機式及 M2 測試模塊三大產品線,為激光光束質量檢測提供全場景解決方案。 掃描狹縫式光斑分析儀刀口 / 狹縫雙模式切換技術,覆蓋 190-2700nm 寬光譜,支持 2.5μm-10mm 光束直徑測量。0.1μm 超高分辨率可捕捉亞微米級光斑細節,無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光,適用于激光加工、醫療設備等高能量場景。 相機式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段,支持 2D/3D 實時成像與動態分析,可測量非高斯光束(如平頂、貝塞爾光束)。獨特的六濾光片轉輪設計實現功率范圍擴展,可拆卸結構支持科研成像功能拓展。 M2 測試模塊適配全系產品,通過 ISO 11146 標準算法測量光束傳播參數(M2 因子、發散角、束腰位置等),結合 BeamHere 軟件實現一鍵生成報告、多參數同步分析。系統以模塊化設計滿足光通信、醫療、工業等領域的光斑檢測需求,兼顧實驗室與產線在線監測場景。光束質量M2怎么測量?激光光斑分析儀

光斑分析儀

Dimension-Labs 突破性推出 Beamhere 智能光斑分析平臺,通過模塊化設計實現光束質量全參數檢測。該系統采用高靈敏度傳感器陣列,可實時測繪光斑能量分布,同步計算發散角及 M2 因子等指標。針對光束整形、聚焦優化等場景,系統提供專業分析模板,支持 ISO11146 標準參數輸出。可選配的 M2 測試模塊通過滑軌式掃描技術,實現光束傳播特性的三維重建,終由 AI 算法自動生成包含能量集中度、橢圓率等 20 + 參數的測試報告。 產品優勢: 滿足測試需求的全系列產品 適配所有Beamhere光斑分析儀的M M2因子測試模塊 精心設計的分析軟件。 軟件真正做到交互友好,簡單易用,一鍵輸出測試報告。beam here光斑分析儀廠家光斑分析儀與M2測試模塊組合,實現對光束傳播方向的發散角、M2因子、聚焦直徑等測量。

激光光斑分析儀,光斑分析儀

Dimension-Labs 推出 Beamhere 系列光斑分析儀,通過配套通用軟件構建完整光束質量評估體系。該系統集成光斑能量分布測繪、發散角測量及 M2 因子計算三大功能,可有效分析光束整形、聚焦及準直效果。所有參數均符合 ISO11146 標準,包括光斑寬度、質心偏移量和橢圓率等指標。用戶可選配 M2 測試模塊,實現光束傳播方向上的束腰定位、發散角測量及 M2 因子計算,終通過軟件一鍵生成標準化測試報告。BeamHere把對于激光光束的評價進?量化,并由軟件?鍵輸出測試報告,精確且?效的完成光束分析。

針對光通信領域,Dimension-Labs 提供多芯光斑同步檢測方案:掃描狹縫式設備支持單芯 2.5μm 光斑檢測,結合 Fast Check MT 檢測儀實現 12 芯并行測試;相機式系統實現全端面成像分析,可檢測連接器端面傾斜度誤差小于 0.5°。在醫療激光領域,其 0.1μm 分辨率可捕捉光斑畸變,配合閉環反饋系統實時調整激光參數,結合 M2 因子模塊優化光束準直度,使激光聚焦精度達 ±2μm。工業加工場景中,千萬級功率測量能力與 ISO 標準參數輸出,幫助企業將激光切割熱影響區縮小 30%,提升加工精度達 ±5μm。多光斑光束質量怎么測?

激光光斑分析儀,光斑分析儀

相機式與狹縫式光斑分析儀對比指南 光斑分析儀的選擇需基于應用場景的光斑尺寸、功率、脈沖特性及形態復雜度: 1. 光斑尺寸 相機式:受限于 sensor 尺寸(≤10mm),小光斑為 55μm(10 倍 5.5μm 像元)。 狹縫式:刀口模式可測小 2.5μm 光斑,適合亞微米級檢測。 2. 功率范圍 相機式: 6 片衰減片(BeamHere 標配),可測 1W,需控制功率 < 10μW/cm2。 狹縫式:狹縫物理衰減機制支持近 10W 直接測量,無需外置衰減片。 3. 脈沖激光 相機式:觸發模式同步捕獲完整單脈沖光斑,兼容性強。 狹縫式:需匹配掃描頻率與激光重頻,易丟失脈沖信息。 4. 光斑形態 相機式:面陣傳感器保留非高斯光束(如貝塞爾光束)及高階橫模細節。 狹縫式:狹縫累加導致復雜光斑失真,適合高斯或規則光斑。 選擇建議 狹縫式:亞微米光斑、高功率或高斯光斑檢測。 相機式:大光斑、脈沖激光或復雜非高斯光束分析。 維度光電 BeamHere 系列提供兩種技術方案,適配實驗室與工業場景的全場景需求。M2 因子測量模塊怎么選?維度光電 M2 因子測量模塊,搭配光斑分析儀,測量激光光束質量。相機光斑分析儀測量

光斑分析儀都有哪些類型?激光光斑分析儀

維度光電 BeamHere 系列為激光光束質量檢測提供高性價比解決方案: 掃描狹縫式:國內刀口 / 狹縫雙模式切換,覆蓋 190-2700nm 光譜,可測 2.5μm-10mm 光束,0.1μm 分辨率實現亞微米級光斑分析。創新狹縫衰減機制支持 10W 級高功率直接測量,無需外置衰減片。 相機式:400-1700nm 寬譜響應,支持實時 2D/3D 成像與非高斯光束測量。六濾光片轉輪設計擴展功率量程,可拆卸結構兼顧工業檢測與科研成像需求。 M2 測試模塊:通過 ISO 11146 標準算法,測量 M2 因子、發散角、束腰位置等參數,適配全系產品。 配套 BeamHere 軟件提供直觀操作界面,支持一鍵生成標準化報告,滿足光通信、醫療、工業等多場景需求。系統以模塊化設計實現高精度檢測,助力客戶提升效率與產品質量。激光光斑分析儀

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