Dimension Labs 的 DL-SPD 系列單光子探測器,宛如光子世界的 “超級領航員”。60% 的探測效率,使其在量子通信的信息海洋中精確導航,保障密鑰分發安全;在激光雷達的探測征途上,高效捕捉目標光子,實現遠距離精確定位。20MHz 的飽和計數率,賦予它應對高頻光信號的 “超級速度”,無論是量子通信的高速數據傳輸,還是激光雷達對動態場景的實時監測,都能游刃有余。暗計數低至 100Hz,后脈沖概率可達1%,讓它在生物熒光成像、工業缺陷檢測等場景中,受到很低的噪聲影響,成為輸出純凈數據的 “可靠伙伴”。Dimension Labs 自研的 DL-SPD 系列單光子探測器產品以優良性能推動科研創新與產業升級,推動光子探測技術邁向新高度。生物熒光成像微觀洞察:DL-SPD 如何捕捉微弱生物信號?激光雷達單光子探測器測量
Dimension Labs 精心研制的 DL-SPD 系列單光子探測器,是光子探測領域的 “智慧先鋒”。60% 的探測效率,使其在量子通信和激光雷達的舞臺上,成為高效捕捉光子的 “主角”,滿足高精度檢測的多樣化需求。20MHz 的飽和計數率,賦予它對高頻光信號的 “智能響應” 能力,在量子通信的信息傳遞中精確無誤,在激光雷達對動態目標的追蹤中精確定位。暗計數低至 100Hz,后脈沖概率極小,讓它在生物熒光成像、工業檢測等場景中,如同 “智能數據篩選器”,濾除噪聲,輸出真實可靠的數據。憑借先進的技術和優良的性能,DL-SPD 系列產品正在為科研與產業發展開辟新的道路。常見單光子探測器系統搭建天文觀測 + 環境監測,全光譜覆蓋的 DL-SPD 如何應對不同需求?
Dimension Labs 自研的 DL-SPD 系列單光子探測器,堪稱光子探測領域的 “全能選手”。60% 的超高探測效率,使其在量子通信中成為守護信息安全的 “精密衛士”,精確捕捉單光子信號,確保密鑰分發萬無一失;在激光雷達應用里,化身為 “敏銳獵手”,快速鎖定目標反射光子,實現遠距離高精度測距。20MHz 的飽和計數率,賦予其應對高頻光信號的 “超能力”,無論是量子通信的高速數據傳輸,還是激光雷達對動態目標的追蹤,都能輕松駕馭。低至 100Hz 的暗計數與極低的后脈沖概率,更讓它在微弱信號檢測中脫穎而出,無論是生物熒光成像、天文觀測,還是工業無損檢測,都能以超高的精確度,排除噪聲干擾,還原真實數據,為科研與產業發展注入強勁動力。
DL-SPD 系列單光子探測器,是 Dimension Labs 創新科技的結晶。60% 的探測效率,使其在量子通信與激光雷達領域,成為高效捕捉光子信號的 “利器”,滿足高精度檢測的嚴苛要求。20MHz 的飽和計數率,賦予它對高頻光信號的 “快速反應” 能力,在量子通信的信息傳輸中高效穩定,在激光雷達對高速運動目標的檢測中精確測量。暗計數低至 100Hz,有效減少了噪聲干擾,在生物熒光成像、天文觀測等微弱光信號檢測中,提高了探測精度;后脈沖概率極低,確保了數據的真實性,在工業無損檢測、環境監測等領域,為科學研究和產業應用提供了可靠的數據支持。DL-SPD 系列產品正以優良的性能,助力各領域探索未知,創造更多可能。進口探測器成本高?國產化 DL-SPD 降本提效,性能不減!
在科技浪潮中,Dimension Labs 自研單光子探測器DL-SPD系列產品憑借超高靈敏度,成為多領域變革的關鍵力量。于量子通信,它是量子密鑰分發系統的 “安全中樞”,以單個光子級別的精確探測,為信息傳輸構筑起堅不可摧的保密防線;在醫學成像領域,化身 “微觀洞察者”,捕捉生物樣本熒光標記物的微弱信號,助力疾病早期檢測與神經科學研究,實現高分辨率成像。在激光雷達與遙感領域,它又變身 “精確感知器”,精確定位障礙物、行人,探測大氣污染物與海洋浮游生物,大幅提升遠距離探測能力,為自動駕駛、地理測繪等提供可靠數據支撐。在工業缺陷檢測場景,也憑借出色性能發揮重要作用。隨著技術不斷迭代,維度光電自研的單光子探測器DL-SPD系列產品將持續突破邊界,為科研創新與產業發展注入澎湃動能。20MHz 高速密碼:DL-SPD 探測器的電路架構有何不同?維度光電重磅推出單光子探測器功能
單光子級捕捉!20MHz 計數率 + 100Hz 暗計數,DL-SPD 解鎖探測新精度。激光雷達單光子探測器測量
工業自動化場景對探測器的耐久性、抗干擾性與響應速度提出嚴苛要求。DL-SPD 模塊針對工業環境優化設計,雙層屏蔽抗干擾結構有效抵御電磁噪聲,確保在激光加工、半導體晶圓檢測、智能裝備定位等場景中穩定運行。20MHz 飽和計數率支持高速流水線實時監測,搭配 1% 后脈沖概率,識別高速運動物體的微弱反射光信號,避免漏檢與誤判。無論是新能源電池缺陷檢測,還是精密器件表面瑕疵篩查,DL-SPD 均能以工業級可靠性提升產線效率,為智能制造注入 “光子級” 檢測精度。激光雷達單光子探測器測量