深圳市斯邁爾電子有限公司2025-06-30

MV-SC3050XM 的 6μs~1sec 寬范圍曝光時間調節，通過硬件快門控制與軟件智能調節，可準確適配從高速強光到弱光靜態的全場景工業檢測需求： 高速動態強光場景（6μs~1ms） 短曝光時間適用于捕捉高速運動物體，避免運動模糊。在 3C 產品的貼片機工序中，6μs 曝光可凍結 0.1mm 級元件的高速位移（速度 ≤5m/s），確保芯片引腳焊接質量檢測無拖影；在汽車輪轂高速旋轉檢測中，100μs 曝光配合紅色光源，可清晰捕捉輪轂表面 0.05mm 級劃痕。此區間曝光時間配合 40fps 幀率，每分鐘可完成 2400 件元件的動態檢測，適用于傳送帶速度 ≤3m/s 的產線。 中速常規光照場景（1ms~100ms） 該區間適用于大多數工業流水線的常態檢測。在食品包裝的高速分揀線中，5ms 曝光配合白色光源，可同步完成包裝完整性（封口檢測）與生產日期識別，每分鐘處理 300 包產品，檢測準確率達 99.5%；在電子元件的 AOI 檢測中，20ms 曝光優化焊點與基板的灰度對比，使 0.1mm 的焊錫偏移可被準確識別。 弱光靜態精密場景（100ms~1sec） 長曝光時間適用于低光環境或靜態精密檢測。在食品冷庫（-5℃，光照度 ≤50lux）的包裝檢測中，1sec 曝光配合藍色光源，可提升暗部細節亮度，使透明包裝內的異物檢測率提升至 98%；在半導體晶圓的顯微檢測中，500ms 曝光配合綠色光源，可增強晶圓表面缺陷與基底的對比度，識別 0.02mm 級的劃痕或污點。 智能曝光調節機制 傳感器支持自動曝光（AE）與區域曝光（ROI 曝光）功能：自動曝光模式下，內置光強傳感器實時監測環境亮度，動態調整曝光時間，在明暗突變場景中確保檢測穩定性；區域曝光可針對圖像特定區域單獨設置參數，如在汽車儀表盤檢測中，對反光刻度區域設置短曝光，對背光指針區域設置長曝光，實現全畫面均勻檢測。

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